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| 一种基于DDS和DSP的高精度相位测量模块的实现 | |||||
作者:魏郁梅,… 文章来源:现代电子技术 点击数: 更新时间:2006-12-1 ![]() |
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魏郁梅,费元春 (北京理工大学 信息科学技术学院 北京 100081) 关键词:相位测量;DDS;DSP;模块
其中:θ∈(0,2π)是仪器测得的相位零头,称为视在相差; 可见,频率的降低直接导致测距误差增大。
在每个测试周期,芯片DDS1和DDS2在DSP的控制下产生同频同相的两路单频正弦波信号。假设DDS产生的信号的频率为f0,DDS1产生的这路信号用于调制35 GHz的毫米波信号。频率调制信号经天线发射出去。假设目标的距离为R,调制信号经目标反射回来,接收机对反射信号进行频率解调,解调出来的信号频率仍为f0;将这个解调出来的回波信号与DDS2所产生的本振信号经整形后通过鉴相器进行比相;再将相位差经A/D转换为数字信号后送入DSP,DSP根据该值决定对DDS2输出波形进行的相位调整量;如此循环,调整DDS2的相位,直到回波相位与DDS2产生的信号相位相同,即检测A/D转换器送来的结果为0后,DSP根据记录下的总的相位调整量计算目标距离值。 ![]()
上电后,DSP进行初始化,通过定义为缓冲串口的McBSP#0,McBSP#1同时分别给两路DDS的数据寄存器写数据;在这部分软件设计时,要特别注意McBSP数据输出时序与DDS接收数据时序的对应。双路DDS同时开始工作;等待至DDS1发射信号的回波回来,经滤波与DDS2产生的信号鉴相后,DSP控制AD转换器工作并取得转换结果,判断结果值,若不为0,通过HD0和HD1选择DDS2的相位寄存器改变DDS2输出信号的相位,重复鉴相过程;若结果为0,根据已记录的总的DDS2的相位调整量计算距离值。继续给两路DDS写第2、第3个侧音频率的数据,重复上述测相流程,直至多个侧音频率正弦波测距结束。 其中:N是相位累加器的比特数,在此,N=32;AD9832的相位分辨率为2π/4 096(0.088°)。 DDS的相位噪声主要决定于时钟的相位噪声、DDS外围电路的噪声、电源噪声及芯片内部集成工艺引起的噪声。DDS工作时不可避免会有杂散电平输出,这主要是由芯片内部累加器的相位取舍造成的误差、幅度量化误差、DAC分辨率误差及其非线性以及时钟信号泄漏造成的。理想的DDS频谱谱线总是出现在f=nfc±f0(n=0,1,2,…)处。由此可知,理想DDS的杂散主要来自系统的取样函数δ(t-nTc),即由参考时钟引起。DDS杂散的存在,对基准信号与回波信号鉴相的准确度有一定影响,使模块的测相精度有所下降。虽然DDS的杂散是固有的,但可以通过提高参考时钟的频率来抑制。本方案尽可能的提高了参考时钟的频率,选用了高稳定的20 MHz晶振作为时钟信号源。 相位累加器及DA变换器受到非线性、非理想瞬态响应及相位累加器字长的有限性的限制,在执行相位累加和幅度样值存储的过程中,不断对相位及幅度进行量化,DDS会产生附加的相位量化误差和幅度量化误差,最终主要表现为幅度量化噪声。所选芯片的量化噪声是固有的,必然也将对测相模块的精度产生影响。这种影响是无法直接测得的,但可以通过对目标值进行多次测量取平均值来获取更接近真实距离的测量值。 实践证明,整个模块的测相精度还受到其他模拟器件及电路板的影响,运算放大器和滤波器的非线性、鉴相器的鉴相误差必然导致测相精度的下降;系统本身也存在着固有相差且与工作频率有关。另外,AD转换器在输入零点处的测量灵敏度直接影响到视在相差的测量值。因此必须对系统做多次测试,分析测相误差并记录。在进行距离解模糊运算时必须将系统误差考虑进去,在程序中做出相应的校正。 4.4 测试结果 电路板调测完成后,进行了大量模拟测试试验。在模拟测试时,预先将DDS1与DDS2的输出信号相位设置一个差值,模拟回波相位延迟。表1给出了校正系统固有相差后的部分测试结果。 ![]() 5 结 语 参考文献 [2]黄敬禹,陈雅琴,冯正和.一种适合测距应用的数字相位跟踪测量环性能分析[J].电子学报,2001. [3]钱朝晖.采用DDS技术的高性能雷达信号源[J].现代雷达,2002,(7):50-52。 [4]姚更云,等.DDS的背景噪声分析[J].电讯技术,2000,(6):64-67. [5]刘昌玉,魏守平.智能测频测相模块的研究[J].大电机技术,1994,(6):57-61. |
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